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日本日置C测试仪3504-60|3504-50|3504-40

日本日置C测试仪3504-60|3504-50|3504-40

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日本日置C测试仪3504-60,C测试仪3504-50用BIN的分选接口进行被测物体的测试
C测试仪3504-40记录工具,实现高速/低成本的测试

  • 产品描述

日本日置C测试仪3504-60,C测试仪3504-50用BIN的分选接口进行被测物体的测试
C测试仪3504-40记录工具,实现高速/低成本的测试
高速测量2ms
C、D 2项目测试
能以恒定电压测量大容量的多层陶瓷电容
测试源频率: 120Hz, 1kHz
RS-232C
封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等
能根据C 和D (损耗系数*2)的测量值,进行被测物合格与否的判断
对应测试线,比侧仪功能/触发输出功能
查出全机测量中的接触错误,提高成品率

日本日置C测试仪3504-60|3504-50|3504-40基本参数

测量参数Cs,Cp(电容),D(损耗系数tanδ)
测量范围C:0.9400pF~20.0000mF
D:0.00001~1.99000
基本确度(代表值)C: ±0.09% rdg. ±10 dgt., D: ±0.0016
※测定确度= 基本确度× B× C× D× E, B~Eは各系数
测量频率120Hz, 1kHz
测量信号电平恒定电压模式: 100mV (仅限3504-60) 500 mV, 1 V
测量范围:
CV 100mV:~ 170μF 量程 (测量频率 1kHz), ~ 1.45mF 量程 (测量频率 120Hz)
CV 500mV: ~ 170μF 量程 (测量频率 1kHz), ~ 1.45mF 量程 (测量频率 120Hz)
CV 1V: ~ 70μF 量程 (测量频率 1kHz), ~ 700μF 量程 (测量频率 120Hz)
输出电阻5Ω(开路端子电压模式,上述测量范围以外)
显示发光二级管 (6行表示,满量程计算器根据量程而定)
测量时间典型值: 2.0 ms ( 1 kHz, FAST)
※测量时间根据测量频率、测量速度的不同而不同
机能4 端子控制检测功能(仅限 3504-60),BIN测量(除去3504-40),触发同时输出,储存测量条件,比较测量值的场强,平均值功能,Low-C抑制功能,鸣叫功能,控制用输出入(EXT.I/O),RS-232C界面(标准装备),GP-IB接口(3504-40除外)
电源AC 100/120/220/240V ±10%(可选择), 50/60Hz, zui大110VA
体积及重量260W × 100H × 220Dmm, 3.8kg
附件电源线×1,预备电源保险丝×1

C测试仪3504-50输入用探头/测试夹具,实体不附带。按照测量目的,不同型号有不同的探头/测试夹具选件


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