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HIOKI日置3506-10测试仪、3506-10LCR电桥

HIOKI日置3506-10测试仪、3506-10LCR电桥

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HIOKI日置3506-10测试仪、3506-10LCR电桥对应1MHz测试, 低容量,高精度,高速测试,模拟测量时间0.6ms(1MHz)的高速测量,输入用探头/测试夹具,实体不附带。按照测量目的,不同型号有不同的探头/测试夹具选件。 ※RS-232C用连接线可以使用支持网络连接的市面上销售的交叉线。RS-232C连接线9637除硬件流控制之外的情况下可以使用。

  • 产品描述
品牌其他品牌产地类别进口
类型高速LCR测量仪

HIOKI日置3506-10测试仪、3506-10LCR电桥

对应1MHz测试, 低容量,高精度,高速测试

● 模拟测量时间0.6ms(1MHz)的高速测量
● 提高了抗干扰性,在产线的上也能实现高反复精度
● 1kHz、1MHz测量下,低电容的贴片时可稳定测量
● 根据BIN的测定区分容量

输入用探头/测试夹具,实体不附带。按照测量目的,不同型号有不同的探头/测试夹具选件。 ※RS-232C用连接线可以使用支持网络连接的市面上销售的交叉线。RS-232C连接线9637除硬件流控制之外的情况下可以使用。

 

技术参数:

测量参数

C(电容),D(损耗系数tanδ), Q (1/tan δ)

测量范围

C:0.001fF~15.0000μF
D: 0.00001 ~ 1.99999
Q:0.0 ~ 19999.9

基本精度

(代表值)C: ±0.14% rdg. D: ±0.0013

测量频率

1kHz, 1MHz

测量信号电平

500mV, 1V rms

输出电阻

1Ω (在1kHz 时2.2 μF 以上量程), 20Ω(除上述以外的量程)

显示

LED(6位显示,满量程由点数有效距离来决定)

测量时间

1.5ms:1MHz, 2.0 ms:1kHz

功能

BIN分类测量, 触发同步输出, 测量条件记忆, 测量值比较功能, 平均值功能, Low-C筛选功能, 振动功能, 电流检测监视功能, 输出电压值监视功能, 控制用输入输出 (EXT. I/O), RS-232C接口, GP-IB接口

电源

AC 100/120/220/240V ±10%(可选择), 50/60Hz, 最大40VA

体积及重量

260W × 100H × 298Dmm, 4.8kg

附件

电源线× 1, 电源备用保险丝× 1,使用说明书× 1

测试冶具或电缆

 

Ol2000

4端子探头L2000

DC~5MHz,1m长

O914010

4端子开尔文夹9140-10

DC~200kH,50 Ω,1 m长

Ol2001

镊形探头L2001

线长73cm,DC~8MHz,50Ω,前端电极间隔:0.3~6mm(IM9901:JIS尺寸1608~5750)(IM9902:JIS尺寸0603~5750)

O926110

测试治具9261-10

线长1m,DC~5MHz,特性阻抗50Ω,可测端口直径:0.3~1.5mm

O9262

测试治具9262

DC~8 MHz, 直接连接型

O9263

SMD测试治具9263

直接连接型, DC~5 MHz 测试尺寸: 1mm~10.0mm

O9677

SMD测试治具9677

用于侧面有电极的SMD DC~120MHz,测试样品 尺寸:3.5mm±0.5mm

O9699

SMD测试治具9699

用于底部有电极的SMD DC~120MHz,测试样品 尺寸:宽1.0~4.0mm,高1.5mm以下

 


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