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ED400涡流测厚仪| ED400涂层测厚仪| ED400氧化膜测厚仪

ED400涡流测厚仪| ED400涂层测厚仪| ED400氧化膜测厚仪

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更新时间:
2023-11-12
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ED400涡流测厚仪| ED400涂层测厚仪| ED400氧化膜测厚仪主要用于测量铝合金型材表面的阳极氧化膜或涂层厚度,还可用于测量其它铝板、铝管、铝塑板、铝零件表面的阳极氧化膜或涂层厚度,测量其他有色金属材料上绝缘性覆盖层的厚度,测量塑料薄膜及纸张厚度,仪器符合国家标准GB/T4957-2003 《非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量涡流法》。

  • 产品描述

ED400型涡流测厚仪是ED300型测厚仪的改进型,仪器性能显著提高。

 ED400涡流测厚仪适于测量各种非磁性金属基体上绝缘性覆盖层的厚度。主要用于测量铝合金型材表面的阳极氧化膜或涂层厚度,还可用于测量其它铝板、铝管、铝塑板、铝零件表面的阳极氧化膜或涂层厚度,测量其他有色金属材料上绝缘性覆盖层的厚度,测量塑料薄膜及纸张厚度。

 ED400涡流测厚仪适于在生产现场、销售现场或施工现场对产品进行快速、无损的膜厚检查, 可用于生产检验、验收检验和质量监督检验。
  仪器符合国家标准GB/T4957-2003 《非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量涡流法》。


ED400涡流测厚仪仪器特点:

ED400型涡流测厚仪与ED300型相比,具有如下特点:

量程宽: ED400型涡流测厚仪量程达到0~500 μm。

精度高: 测量精度达到2%。
分辨率高:分辨率达到0.1 μm。
校正简便 :只校正“0"和“50 μm"两点,即可在全量程范围内保证设计精度。
基体导电率影响小:基体材料从纯铝变化到各种铝合金、紫铜、黄铜时,测量误差不大于1~2 μm。
可靠性提高:采用高集成度、高稳定性电子器件,电路结构优化,仪器可靠性提高。
稳定性提高:采用先进的温度补偿技术,测量值随环境温度的变化很小。仪器校正一次可在生产现场长期使用。

探头芯寿命长:采用高强度磁芯材料,微调了探头设计,探头芯寿命可大大延长。


 ED400涡流测厚仪技术参数:


测量范围: 0~500 μm

测量精度:0~50 μm:±1 μm;


50~500 μm:±2%

分 辨 率:0~50 μm:0.1 μm;


50~500 μm:1 μm;


0~500 μm:1 μm(可选)

使用温度:5~45℃

外形尺寸:150 mm×80 mm×30 mm

重 量:280 g 


 ED400涡流测厚仪标准配置:

主机            
探头            
基体(6063铝合金)
校正箔片   一套4片(附检测报告)
仪器箱

 ED400涡流测厚仪可选附件:

备用探头
基体
校正箔片(附检测报告)


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